一．
选择填空(30分):1．测量系统是用来对被测赋值的( ABCDEF )的集合。A.操作者 B.量具 C.设备 D.软件 E.操作程序 F.环境
2．测量过程的分别有( ABCDF )五个输入要素，输出则为测量值。A.操作者 B.量具 C.产品 D.测量方法 E.操作程序 F.环境
3．数据的类型分为( AB )数据。 A.计量型 B.计数型 C.破坏型
4．MSA评审的二个阶段分别为( BC )阶段。
A.数据收集 B. 分析 C. 改进
5．调整轴的图纸尺寸为25±0.05，测得的过程变差为0.05，最合适的量具应选用( D )量具 A.分辨力0.02的游标卡尺 B.分辨力为0.01的千分尺
C.分辨力0.01的游标卡尺 D.分辨力为0.001的千分尺
6．测量系统的宽度误差包括( DE )A.偏倚 B.稳定性 C.线性 D.重复性 E.再现性
7．测量系统的位置误差包括( ABC )A.偏倚 B.稳定性 C.线性 D.重复性 E.再现性
8．以下哪种原因可能导致测量结果的变差（ ABCD ）A.零件的变差 B.测量人内部变差 C.测量仪器的变差 D.测量环境导致的变差
9．以下属于测量设备的计量特性的有（ ABC ）A.分辨力 B.最大允许误差 C.测量范围 D.重量 E.长度
10．在测量系统分析中，评价一个人使用一件测量设备，对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差，称为（ A ）A.重复性 B.偏倚 C.稳定性 D.线性 E.再现性
11．以下描述错误的是（ B ）A.零件的真值永远无法得到，只能无限与之接近 B.数显卡尺的准确度是0.02mm；
C.产品控制理论关注的是零件是否在指定的范围内 D.过程控制理论关注的是过程变差是否稳定并可接受
12．以下公式错误的是（ B ）A.测量系统的偏倚＝测量值－真值（或约定真值） B. ndc(区别分类数)＝1.41*(PV/GRR)
C.CTV（总变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋PV(零件的变差)2
D.GRR(测量系统变差)2＝EV(测量设备的变差)2＋AV（评价人的变差）2
13．重复性是由( A )个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。A.1 B.2 C.3 D.4
14．位置误差通常是通过分析( A )和线形来确定。A 偏倚 B 精密度 C 重复性 D 再现性
15．以下哪种分析方法不是用于基本计量型的测量系统( C )。A 极差法 B 均值和极差法 C 假设检验分析 D ANOVA
